容錯測試1-aop實(shí)現

背景介紹:

今年我們產(chǎn)品線(xiàn)對我們去年線(xiàn)上的遺留bug做了分析,發(fā)現線(xiàn)上的遺留問(wèn)題基本上是一些無(wú)法測試到的異常流程或者依賴(lài)的其他應用有異常引起的,普通的正常功能測試已經(jīng)很難發(fā)現那些問(wèn)題,于是我們今年提出了一個(gè)容錯測試的目標,希望能夠解決這類(lèi)問(wèn)題的測試瓶頸.

我們的目標:

• ²  測試各種錯誤異常情況下系統的反應
• ²  通過(guò)自動(dòng)化的手段運行

為了說(shuō)明后面的內容,先看一個(gè)簡(jiǎn)單的例子,有下面的被測代碼:

接口:

public interface IHello {

   public int hello();

}

實(shí)現:

public class Hello implements IHello {

    @Override

    public int hello() {

       System.out.println("Hello is print!");

       return 1;

    }

}

現有方案介紹:

• 1.     運用eclipse debug,使用display功能修改值

問(wèn)題:無(wú)法自動(dòng)化

• 2.     編寫(xiě)mock的測試bean
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問(wèn)題:不夠優(yōu)雅(用這個(gè)方法來(lái)做的話(huà),維護成本等會(huì )很高,不可管理…)

• 3.     使用現有的一些mock框架，比如使用Mockito.
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問(wèn)題：切入時(shí)間比較難控制,因為真實(shí)環(huán)境下的bean依賴(lài)如下圖,用mock框架很難控制bean的注入點(diǎn).

新的方案(基于AOP的實(shí)現):

采用AOP的方式來(lái)插入mock對象:

實(shí)現細節(限于篇幅,做了一定精簡(jiǎn))

原文轉自：http://www.taobaotesting.com/blogs/2443