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            缺陷管理中的趨勢分析之Bug OPEN & CLOSE趨勢圖

            發(fā)布: 2009-2-24 09:25 | 作者: 不詳 | 來(lái)源: 領(lǐng)測軟件測試網(wǎng)采編 | 查看: 1次 | 進(jìn)入軟件測試論壇討論

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            軟件測試技術(shù)網(wǎng)4]9u }t P$ET MPW&ET

            ――1、發(fā)現(打開(kāi))和關(guān)閉的問(wèn)題都比較少了,是不是研發(fā)和測試的效率有問(wèn)題?(兩條線(xiàn)沒(méi)有匯集,區間還比較大,但是都很平)

            kh6{&Y M \U0?_ 軟件測試技術(shù)網(wǎng)1I3feGD `5EiJ

            ――2、效率受到影響,是不是因為有很?chē)乐氐募夹g(shù)難題?(導致了研發(fā)改錯的進(jìn)度受到影響,ALLCLOSE曲線(xiàn)很平)軟件測試技術(shù)網(wǎng)|x}T'm)KKQU

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