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缺陷管理中的趨勢分析之Bug OPEN & CLOSE趨勢圖

發(fā)布: 2009-2-24 09:25 | 作者: 不詳 | 來(lái)源: 領(lǐng)測軟件測試網(wǎng)采編 | 查看: 1次 | 進(jìn)入軟件測試論壇討論

——X軸：由若干個(gè)自定義的均勻的時(shí)間點(diǎn)組成；

N-N?P6u――Y軸：缺陷的數量；

0I/k"| W Q ja――ALLOPEN：所有被發(fā)現（打開(kāi)）的缺陷數量。（這是一個(gè)按時(shí)間點(diǎn)的累計值）